Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - The objective of the project is to upgrade the existing facility to a two-dimensional mapping PIXE submiliprobe. Analysis of trace elements by PIXE is salready conducted in the aplicant's laboratory. Various samples are analyzed: fine aerosol particles on a filter, thick or thin layers of materials, paste-like or liquid samples. Generally, the minimum amount of analyzed material required by PIXE is very small, even a few micrograms. However, the analyzed surface of the sample is presently several mm in diameter. The objective is a major improvement - upgrade to a submilimeter probe. That requires: i) a precise target positioning and beam spot localization with accuracy better than a tenth of a milimeter, ii) improvement of monitoring of the beam stability and transport along the vacuum line, iii) proton charge measurement systém in the given experimental geometry. There is a variety of suitable applications fot the proposed submilimeter probe including: monitoring of structural changes of tissues in m (en)
- Záměrem navrhovaného projektu je obohatit stávající zařízení o možnost mapování povrchových koncentrací prvků u pevných látek. Na pracovišti navrhovatele jsou na vybudovaném zažízení prováděny analýzy stopových prvků metodou PIXE. Zkoumané vzorky mohou být různého druhu: prachové částice na filtru, tenké i tlusté vrstvy materiálů, pasty nebo rpášky různého původu, kapaliny. Potřebné množství látky je velmi malé, stačí i několik mg, ale analyzovaný povrch na zařízení dnešní podobě má průměr několik mm. Cílem projektu je další výrazné vylepšení - úprava v submilimetrovou sondu. Je nutno zjistit polohování terče a kontrolu polohy stopy svazku s přesností lepší než desetina mm, zlepšit měření stability a kontrolu svazku podél iontové trasy a vyřešit problematiku měření expoziční dávky v tomto uspořádání. Možných aplikací je celá řada - v medicíně pro zjišťování změn v tkáních, v geologii pro analýzy minerálů, při zkoumání archeologických nálezů a uměleckých děl. V rámci projektu budou připraveny a analyzo (cs)
|
Title
| - Dvoudimenzionální mapování prvkových koncentrací metodou PIXE (cs)
- Two-dimensional mapping of element concentratios by PIXE analysis (en)
|
http://linked.open...lsi-vedlejsi-obor
| |
http://linked.open...avai/druh-souteze
| |
http://linked.open...domain/vavai/faze
| |
http://linked.open...vavai/hlavni-obor
| |
http://linked.open...vai/vedlejsi-obor
| |
http://linked.open...vavai/id-aktivity
| |
http://linked.open.../vavai/id-souteze
| |
http://linked.open...n/vavai/kategorie
| |
http://linked.open...nujicich-prijemcu
| |
http://linked.open...avai/poskytovatel
| |
http://linked.open...ai/statni-podpora
| |
http://linked.open...vavai/typProjektu
| |
http://linked.open...ai/uznane-naklady
| |
http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
| |
http://linked.open...cet-spoluprijemcu
| |
http://linked.open...ai/pocet-vysledku
| |
http://linked.open...ku-zverejnovanych
| |
is http://linked.open...ain/vavai/projekt
of | |