Mikroskopie rastrovací sondou (SPM) bude v tomto projektu použita pro studium a charakterizaci polymerních filmů. Atomárně ploché vrstvy polymerních filmů budou vytvářeny speciálními technikami, které poskytují uspořádané vrstvy monokrystalického charakteru. Takto vytvořené polymerní filmy umožní studovat molekulární (atomární) strukturu polymeru a sledovat její změny v důsledku reakcí probíhajících v polymerní matrici. Bude studováno deponování orientovaných vrstev metodou epitaxe na již vytvořených vysoce orientovaných polymerních substrátech. V projektu se chceme rovněž zabývat studiem fyzikálně chemických vlastností polymerů vzhledem ke stupni jejich uspořádanosti. Zástupci polymerů z řad derivátů poly(tetrafluoroethylenu), polymetylmetakrylátu resp. konjugovaných polymerů budou předpokládaným předmětem této studie. (cs)
Scanning probe microscopy as a high resolution technique will be used for the study and characterization of polymeric films. Atomically flat surfaces of polymeric films will be formed by special techniques which are know to yield ordered single crystalike layers. Formation of such an ordered layer will allow to resolve the molecular and submolecular structure of polymers as well as the changes during the reactions taking place in the polymeric matrix. The deposition of oriented films on orderedpolymeric substrates, a from of epitaxy, will be investigated. The study will be focused on physico-chemical properties of polymers with respect to the degree of their alignment. Representatives of poly(tetrafluoroethylene), methylmetacrylate and/or conjugated polymers are expected to be included in this study. (en)