| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - Rastrovací elektronový mikroskop (SEM) je tradičně považován za nekoherentně zobrazující zařízení produkující topografický resp. materiálový kontrast v obraze vytvářeném rastrováním po jednotlivých bodech. SEM s pomalými elektrony na bázi katodové čočky, vyvinutý v předchozích projektech, dovoluje použít energie elektronů v řádu jednotek až desítek eV, vhodné pro vznik vlnově optických kontrastů v SEM. Především jde o využití jednotlivých difraktovaných svazků LEED obrazce pro získání informace o lokální krystalické orientaci povrchu a jejím vývoji. Další vlnově optické kontrasty vznikají zachycením interferenčního pole vln odražených od teras po stranách povrchových atomových stupňů, resp. odražených od obou povrchů velmi tenkých povrchových vrstev. Tyto kontrasty lze využít ke studiu raných stádií růstu povrchových vrstev, ke studiu multivrstev (zejména v šikmých řezech) pomocí proužků stejné tloušťky, atd. (cs)
- The scanning electron microscope (SEM) is traditionally considered to be an incoherently imaging device producing topographical or material contrast in an image formed by pixels. The SEM with slow electrons equipped with the cathode lens, developed within the previous projects, enables one to use the electron energies in units or tens of eV, which corresponds to the appearance of the waveoptical contrasts in SEM. First of all, there is a question to utilize the individual diffracted beams of the LEED pattern to acquire information about the local crystallinic structure of the surface, and its development. Further wave-optical contrasts arise by the detection of the interference field of the waves reflected from terraces on both sides of surface atomic steps or from both surfaces of thin surface layers. They can be used for observation of initial phases of the film growth, for examination of multilayers (particularly in bevelled sections) by using equal-thickness fringes, etc. (en)
|
| Title
| - Wave-optical contrasts in the scanning electron microscope (en)
- Vlnově optické kontrasty v rastrovacím elektronovém mikroskopu (cs)
|
| http://linked.open...lsi-vedlejsi-obor
| |
| http://linked.open...avai/druh-souteze
| |
| http://linked.open...domain/vavai/faze
| |
| http://linked.open...vavai/hlavni-obor
| |
| http://linked.open...vai/vedlejsi-obor
| |
| http://linked.open...vavai/id-aktivity
| |
| http://linked.open.../vavai/id-souteze
| |
| http://linked.open...n/vavai/kategorie
| |
| http://linked.open...vai/klicova-slova
| - scanning electron microscope; low electron energie; wave optical contrast (en)
|
| http://linked.open...nujicich-prijemcu
| |
| http://linked.open...avai/poskytovatel
| |
| http://linked.open...ai/statni-podpora
| |
| http://linked.open...vavai/typProjektu
| |
| http://linked.open...ai/uznane-naklady
| |
| http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
| |
| http://linked.open...cet-spoluprijemcu
| |
| http://linked.open...ai/pocet-vysledku
| |
| http://linked.open...ku-zverejnovanych
| |
| is http://linked.open...ain/vavai/projekt
of | |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)