Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Defects in the crystalline lattice can be investigated using several methods (XRD, TEM). X-Ray scattering is a widely used technique particularly for simple sample preparation for measurement and for nondestructivity in comparison with TEM. Recently, diffusely scattered x-rays are mostly used to study defect within sample. This can be applied only if density of defects in the sample exceeds certain level to get measurable signal. Then, we are able determine the density of defects by means of appropriate models. But, recently used theories need an a-apriori information about the defect, namely the displacement field of atoms cause by the defect. In proposed project, we intend to employ coherently scattered x-rays from a few defects (from only one in an ideal case) and reconstruct the displacement field from the defect. Elaborated theoretical approach will be tested on known defect-(straight misfit dislocation). Afterwards, it will be applied for complicated defects (half-loop disloc.). (en)
- Defekty v krystalové mřížce lze studovat mnoha metodami (XRD, TEM, ...). Rozptyl rtg. záření je velmi rozšířenou metodou zejména pro snadnou přípravu vzorku a nedestruktivnost oproti TEM. V současné době se ke studiu defektů používá zejména difuzně rozptýleného rtg.záření. To je vhodné zejména v případě, kdy je defektů ve vzorku dostatečné množství. Pomocí vhodných modelů pak můžeme určit hustotu defektů ve vzorku. Bohužel, teorie používané pro popis difuzně rozptýleného rtg.záření potřebují znalost pole vysunutí atomů kolem defektu. Pro jednoduché defekty jsou tato pole publikována v literatuře. V předkládaném projektu chceme použít koherentně rozptýleného rtg.záření od několika málo defektů (v ideálním případě od jednoho) a z naměřených dat rekonstruovat pole výchylek atomů kolem defektu. Vypracovaný teoretický postup bude ověřen na rozptylu od známých defektů – přímých misfit dislokací. Poté bude aplikován i na složitější systémy, například na smyčkové dislokace. (cs)
|
Title
| - Coherent x-ray scattering from individual defect in the crystal lattice (en)
- Koherentní rozptyl rtg. záření na jednotlivých defektech v krystalové mřížce (cs)
|
http://linked.open...vai/cislo-smlouvy
| |
http://linked.open...avai/druh-souteze
| |
http://linked.open...domain/vavai/faze
| |
http://linked.open...vavai/hlavni-obor
| |
http://linked.open...vavai/id-aktivity
| |
http://linked.open.../vavai/id-souteze
| |
http://linked.open...n/vavai/kategorie
| |
http://linked.open...vai/klicova-slova
| - coherent x-ray scattering; defects; epitaxial layers; crystal lattice; displacement field (en)
|
http://linked.open...avai/konec-reseni
| |
http://linked.open...nujicich-prijemcu
| |
http://linked.open...avai/poskytovatel
| |
http://linked.open...avai/start-reseni
| |
http://linked.open...ai/statni-podpora
| |
http://linked.open...vavai/typProjektu
| |
http://linked.open...ai/uznane-naklady
| |
http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
| |
http://linked.open...cet-spoluprijemcu
| |
http://linked.open...ai/pocet-vysledku
| |
http://linked.open...ku-zverejnovanych
| |
is http://linked.open...ain/vavai/projekt
of | |