Ferroelectric and incipient ferroelectric thin films will be prepared and their basic characteristics will be done. These structures play an important role in optical and electronic applications. The transmittance spectroscopy of thin films offers a new possibility to study polar phonons, particularly soft modes. The measurement of dielectric spectra in broad spectral and temperature range using dielectric, infrared and Raman spectroscopy provides basic parameters and their temperature dependence. Comparison of behaviour of bulk and thin film samples enables to explain the differencies in dielectric properties of bulk samples and thin films and a deeper insight into the lattice dynamics of those systems. (en)
Budou připraveny ferroelektrické a incipientní feroelektrické tenké vrstvy a bude provedena jejich základní charakterizace. Tyto materiály mají velký význam v technických aplikacích. Kromě toho tenké vrstvy nabízejí možnost použití transmisní spektroskopie pro studium polárních fononů, zejména měkkých módů. Měření dielektrických spekter v širokém rozsahu frekvencí a teplot pomocí dielektrické, infračervené a Ramanovy spektroskopie umožní získat jejich základní parametry a jejich teplotní závislosti. Srovnání s parametry objemových vzorků umožní vysvětlit rozdíly dielektrických vlastností objemových vzorků a tenkých vrstev a hlubší pohled do mřížkové dynamiky těchto systémů. (cs)