About: Improvement in Reliability of Nano-scale circuits     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
Description
  • Cílem projektu je vytvoření metodiky pro posouzení a ověření spolehlivosti obvodů vyráběných moderními výrobními technologiemi tzv. nano-scale obvodů. Tyto technologie (nejen zdokonalené CMOS procesy, ale i technologie Carbon-Nano-Tube, Graphen, Si-nanowires atp.) vyžadují odlišný přístup z hlediska spolehlivosti. Je třeba brát v úvahu nové modely poruch, nové testovací techniky, implementovat přístupy, které umožní průběžné vyhodnocování parametrů kritických obvodů a pod. Cílem projektu tedy je analýza typů poruch nových technologií, vytvoření nových či zdokonalení existujících nástrojů pro přípravu testovacích dat se zahrnutím dalších typů poruch a v neposlední řadě i vytvoření metodiky pro vyhodnocování spolehlivosti obvodů. Tyto cíle jsou zaměřeny jak na standardní ASIC obvody, tak na obvody umožňující změnu funkce pomocí částečné i úplné rekonfigurace (FPGA obvody) - součástí řešení je tedy i metodika implementace požadovaných funkcí do těchto obvodů a implementace do víceprocesorových systémů. (cs)
  • The project aim is a developement of a techniques and methodology for verification of the reliability of integrated circuits produced by nowadays technologies, usually described as nano-scale IC. These technologies (advanced CMOS processes, CNT - Carbon Nano-Tube, graphene, Si-nanowires, etc.) requires a different approach in terms of reliability. It is necessary to take into account new fault models and new test techniques, to implement new approaches that enable continuous evaluation of the critical parameters of the integrated circuits. Aim of the project is to analyze the fault types and create new tools for the preparation of test data which can cover other types of failures. These objectives are focused both on a standard ASIC circuits and on circuits which allow the change of the functionality using partial or full reconfiguration (FPGA circuits) - part of this solution is the methodology of implementation of desired functions to these circuits and also implementation in multiprocessor systems. (en)
Title
  • Improvement in Reliability of Nano-scale circuits (en)
  • SPONA - Zvýšení spolehlivosti nanoscale obvodů (cs)
http://linked.open...vai/cislo-smlouvy
http://linked.open...avai/druh-souteze
http://linked.open...domain/vavai/faze
http://linked.open...vavai/hlavni-obor
http://linked.open...vai/vedlejsi-obor
http://linked.open...vavai/id-aktivity
http://linked.open.../vavai/id-souteze
http://linked.open...n/vavai/kategorie
http://linked.open...vai/klicova-slova
  • spolehlivost; odolnost proti poruchám; číslicové systémy; programovatelné obvody; rekonfigurovatelné obvody; komprese testovacích dat (en)
http://linked.open...avai/konec-reseni
http://linked.open...nujicich-prijemcu
http://linked.open...avai/poskytovatel
http://linked.open...avai/start-reseni
http://linked.open...ai/statni-podpora
http://linked.open...vavai/typProjektu
http://linked.open...ai/uznane-naklady
http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
http://linked.open...cet-spoluprijemcu
http://linked.open...ai/pocet-vysledku
http://linked.open...ku-zverejnovanych
is http://linked.open...ain/vavai/projekt of
Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 39 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software