Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures
- Jaderné analytické metody zpětného odrazu iontů RBS a rentgenové fluorescence PIXE byly použity pro studium hloubkových profilů Er zakomponovaných do skleněných struktur metodou nízkoteplotní difůze iniciované elektrickým polem. RBS umožňuje stanovit hloubkový profil koncentrace Er s hloubkovým rozlišením 10nm a velkou citlivostí, je však omezena pozadím pocházejícím ze substrátu, proto může stanovit hloubkový profil pouze do cca 1 mikrometru. PIXE je metoda, která určuje integrální množství Er, a proto srovnáním těchto dvou metod můžeme přesněji odhadnout skutečnou hloubku, do které lze danou metodou difundovat Er. Množství Er ve skleněném substrátu je dáno difůzním časem, použitým proudem a váhovým procentem Er v tavenině z níž dochází k difůzi a v nepolední řadě následnou tepelnou úpravou vzorků. (cs)
- The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures (en)
|
Title
| - The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures
- The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures (en)
- Komplementární studie Er incorporovaného ve skleněných vrstvách určených pro optické vlnovodné struktury metodami RBS a PIXE (cs)
|
skos:prefLabel
| - The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures
- The complementary RBS and PIXE study of erbium incorporated into glass surface for optical waveguide structures (en)
- Komplementární studie Er incorporovaného ve skleněných vrstvách určených pro optické vlnovodné struktury metodami RBS a PIXE (cs)
|
skos:notation
| - RIV/61389005:_____/04:00105670!RIV/2005/AV0/A49005/N
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/61389005:_____/04:00105670
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - PIXE;emission;analytical (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - Proceedings of the International Conference on Particle Induced X-Ray Emission and its Analytical Applications, PIXE 2004 /10./
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Havránek, Vladimír
- Macková, Anna
- Peřina, Vratislav
- Špirková, J.
- Salavcová, L.
- Třešňáková, P.
|
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| |
https://schema.org/isbn
| |