Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Microprocessor controlled measuring instrument for optical transparency measurement of ultra thin metallic and composite films. Optical transparency is measured at three wavelengths 529 nm, 626 nm and 850 nm. This prototype is a partial result of research project VZS|13113|ext:MSM6840770021|FIS:34-05212|21 Diagnostika materiálů, partial task : development of thin film flexible electrode for organic solar cell. (en)
- Mikroprocesorem řízený měřicí přístroj pro měření bodové optické propustnosti ultra tenkých metalických a polymerních kompozitních vrstev. Optická propustnost je měřena na vlnových délkách 529 nm, 626 nm a 850 nm s rozlišením 0,1% v celém rozsahu. Funkční vzorek vznikl v rámci řešení výzkumného záměru VZS|13113|ext:MSM6840770021|FIS:34-05212|21 Diagnostika materiálů, vývoje tenkovrstvové ohebné elektrody organického solárního článku.
- Mikroprocesorem řízený měřicí přístroj pro měření bodové optické propustnosti ultra tenkých metalických a polymerních kompozitních vrstev. Optická propustnost je měřena na vlnových délkách 529 nm, 626 nm a 850 nm s rozlišením 0,1% v celém rozsahu. Funkční vzorek vznikl v rámci řešení výzkumného záměru VZS|13113|ext:MSM6840770021|FIS:34-05212|21 Diagnostika materiálů, vývoje tenkovrstvové ohebné elektrody organického solárního článku. (cs)
|
Title
| - Měřič optické transparence tenkých vrstev
- Měřič optické transparence tenkých vrstev (cs)
- Thin Films Optical Transparency Meter (en)
|
skos:prefLabel
| - Měřič optické transparence tenkých vrstev
- Měřič optické transparence tenkých vrstev (cs)
- Thin Films Optical Transparency Meter (en)
|
skos:notation
| - RIV/68407700:21230/08:03149259!RIV09-MSM-21230___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...onomickeParametry
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68407700:21230/08:03149259
|
http://linked.open...terniIdentifikace
| |
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open...vai/riv/kategorie
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - solar cell; thin films; transparency (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...okalizaceVysledku
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...echnickeParametry
| - Přístroj umožňuje bodové měření optické propustnosti vzorku na třech vlnových délkách : 569 nm, 626 nm, 850 nm s rozlišením 0,1% v celém rozsahu T (0-100 %).
|
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Sedláček, Radek
- Sedláček, Josef
|
http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |