Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Základní konfigurace interferometru pro průmyslová měření a pro nanometrologii byla zvolena v uspořádání pro měření odrazem od rovinného zrcadla. Je to proto, že je vhodná pro použití ve víceosých souřadnicových měřicích systémech, kam aplikovaný výzkum a vývoj interferometrických systémů koncepčně primárně směřuje. Celková základní sestava zahrnuje stabilizovaný laserový zdroj koherentního záření, řídicí elektroniku laseru, homodyní detekční systém, elektroniku zpracování signálu, jednotku pro kompenzaci vlivu indexu lomu a software.
- Základní konfigurace interferometru pro průmyslová měření a pro nanometrologii byla zvolena v uspořádání pro měření odrazem od rovinného zrcadla. Je to proto, že je vhodná pro použití ve víceosých souřadnicových měřicích systémech, kam aplikovaný výzkum a vývoj interferometrických systémů koncepčně primárně směřuje. Celková základní sestava zahrnuje stabilizovaný laserový zdroj koherentního záření, řídicí elektroniku laseru, homodyní detekční systém, elektroniku zpracování signálu, jednotku pro kompenzaci vlivu indexu lomu a software. (cs)
- The basic configuration of the interferometer for industrial metrology and nanometrology was chosen in a setup for measurement through reflection from a plane-mirror. It is suitable for multiaxis coordinate measuring systems where the aplied research and development of the interferometric systems leads. The overall basic setup includes stabilized laser source of a coherent radiation, control electronics of the laser, homodyne detection system, electronics for the signal processing, unit for compensation of the influence of the refractive index of air and software. (en)
|
Title
| - Basic interferometer setup (en)
- Základní sestava interferometru
- Základní sestava interferometru (cs)
|
skos:prefLabel
| - Basic interferometer setup (en)
- Základní sestava interferometru
- Základní sestava interferometru (cs)
|
skos:notation
| - RIV/68081731:_____/14:00438947!RIV15-TA0-68081731
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...onomickeParametry
| - Funkční vzorek realizovaný při řešení grantu s předpokladem smluvního využití s ekonomickým přínosem i po jeho ukončení.
|
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68081731:_____/14:00438947
|
http://linked.open...terniIdentifikace
| |
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open...vai/riv/kategorie
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - interferometry; metrology (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...echnickeParametry
| - Frekvenční stabilita laseru: 10e-8, rozlišení: 0,2 nm
|
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Hrabina, Jan
- Lazar, Josef
- Šarbort, Martin
- Čížek, Martin
- Holá, Miroslava
- Kršek, Jiří
|
http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |