Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Interferometrický systém schopný měřit vzdálenosti v inkrementálním režimu s vysokou přesností, tak přímo (absolutně) přeladěním laseru. Jako zdroje záření je použit moderní polovodičový laser typu VCSEL, úzkospektrální, jednofrekvenční, laditelný. Přesnost v absolutním režimu limitována plynulým přeladěním laseru o cca 1 nm. Přesnost systému ověřena srovnáváním s tradičním interferometrem na bázi He-Ne laseru.
- Interferometrický systém schopný měřit vzdálenosti v inkrementálním režimu s vysokou přesností, tak přímo (absolutně) přeladěním laseru. Jako zdroje záření je použit moderní polovodičový laser typu VCSEL, úzkospektrální, jednofrekvenční, laditelný. Přesnost v absolutním režimu limitována plynulým přeladěním laseru o cca 1 nm. Přesnost systému ověřena srovnáváním s tradičním interferometrem na bázi He-Ne laseru. (cs)
- Interferometric system designed to measure displacement in the incremental regime with high precision and distances directly (absolutely) by tuning of the laser wavelength. The source of radiation here serves a modern semiconductor VCSEL laser with a single frequency, narrow linewith and tunable. The precision in the absolute regime is limited by the continuous tuning range of the laser of approx. 1 nm. The precisioin of the system tested by comparison with a traditional He-Ne laser. (en)
|
Title
| - Absolutní interferometr s laditelným VCSEL laserem
- Absolutní interferometr s laditelným VCSEL laserem (cs)
- Absolute interferometer with tunable VCSEL laser (en)
|
skos:prefLabel
| - Absolutní interferometr s laditelným VCSEL laserem
- Absolutní interferometr s laditelným VCSEL laserem (cs)
- Absolute interferometer with tunable VCSEL laser (en)
|
skos:notation
| - RIV/68081731:_____/04:00047187!RIV06-AV0-68081731
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...onomickeParametry
| - Interferometrický systém schopný měřit s vysokou přesností vzdálenosti v průmyslové výrobě.
|
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/68081731:_____/04:00047187
|
http://linked.open...terniIdentifikace
| |
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - semiconductor laser; tunable laser; absolute interferometry (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...okalizaceVysledku
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...echnickeParametry
| - Vlnová délka: 760 nm, přesnost měření v inkrementálním režimu: 10 nm, v absolutním režimu: 1 ?m.
|
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Číp, Ondřej
- Mikel, Břetislav
|
http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |