Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
rdfs:seeAlso
| |
Description
| - Zařízení se využívá pro vyhodnocení zbytkové kontaminace zkušebních skleněných substrátů sloužících ke zjišťování parametrů mycího procesu čištění desek plošných spojů po procesu pájení.
- Zařízení se využívá pro vyhodnocení zbytkové kontaminace zkušebních skleněných substrátů sloužících ke zjišťování parametrů mycího procesu čištění desek plošných spojů po procesu pájení. (cs)
- The equipment is used for the evaluation of residual contamination test glass substrates used to identify parameters of the cleaning process, cleaning printed circuit boards after the soldering process. (en)
|
Title
| - Evaluation of residual contamination substrates (en)
- Vyhodnocení zbytkové kontaminace substrátů
- Vyhodnocení zbytkové kontaminace substrátů (cs)
|
skos:prefLabel
| - Evaluation of residual contamination substrates (en)
- Vyhodnocení zbytkové kontaminace substrátů
- Vyhodnocení zbytkové kontaminace substrátů (cs)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/12:PR26433!RIV13-TA0-26220___
|
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| |
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...onomickeParametry
| - Obdobné zařízení plánované pro tento účel (s horšími parametry) se cenově pohybuje cca na 150tis. Kč. Výrobní cena zařízení vyvinutého na VUT se pohybuje kolem 35.000,-Kč při dokonalejším rozlišení zbytků tavidla. Při automatickém provozu je potřeba zakoupit speciální software vyvinutý ve spolupráci s VUT v cenové relaci 80.000,-Kč.
|
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/12:PR26433
|
http://linked.open...terniIdentifikace
| |
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open...vai/riv/kategorie
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - Evaluation, contamination, substrates (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open.../licencniPoplatek
| |
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...echnickeParametry
| - Funkční vzorek je využíván na pracovišti řešitele Ústav mikroelektroniky, FEKT, VUT v Brně, Technická 3058/10, 616 00 Brno, Česká republika, IČ 00216305, DIČ CZ00216305 a na pracovišti společnosti PBT Rožnov p.R., s.r.o., Lesní 2331, 756 61 Rožnov pod Radhoštěm, Česká republika, IČ 47972769 Zařízení má rozlišení 16MPix, v reálu zobrazuje pixel 25,4um plochy skutečného objektu. Zařízení je používáno pro vědecko-výzkumné aktivity v rámci projektu NOMEN a provozně ověřováno z důvodu nasazení u zákazníků společnosti PBT Rožnov p.R.
|
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Buršík, Martin
- Jankovský, Jaroslav
- Řezníček, Michal
|
http://linked.open...avai/riv/vlastnik
| |
http://linked.open...itiJinymSubjektem
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |