Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - Rastrovací optická mikroskopie v blízkém poli (Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM) v sobě kombinuje ještě nedoceněný potenciál a technologii rastrovacích mikroskopů s lokální sondou s výkonností optických mikroskopů. SNOM spojuje skvělé spektroskopické a časové rozlišení klasických optických mikroskopů s příčnou rozlišovací schopností často lepší než 100 nm. V tomto přehledu jsou popsány základní principy SNOM s aperturními sondami a některé z jeho aplikací: vliv polarizace na kvalitu obbrazů, magnetické obrazy, lokální charakterizace fotonických součástek, polovodičů a defektů struktur. Tyto příklady ukazují, že SNOM poskytuje pohled do nanosvěta a není již jen pouhou raritou, nýbrž dozrává a stává se plnohodnotným nástrojem nedestruktivního bezkontaktního měření a manipulace.
- Scanning Near-field Optical Microscopy - SNOM -combines a potential and technology of scanninh microsocpes with the performance of optical microscopes. SNOM takes together splendid spectroscopic and time-domain features with the resolution better than 100 nm. This review describes the fundamentals and some applications of SNOM: polarization contrast in images, magnetooptical figures, local characteristics of optoelectronic devices, semiconductors and deffects in structure. All these exemples show that tthe microscope is powerful tool for the local surface characterization. (en)
|
Title
| - Near-field optics and microscopy (en)
- Optika a mikroskopie v blízkém poli
- Optika a mikroskopie v blízkém poli (cs)
|
skos:prefLabel
| - Near-field optics and microscopy (en)
- Optika a mikroskopie v blízkém poli
- Optika a mikroskopie v blízkém poli (cs)
|
skos:notation
| - RIV/00216305:26220/03:PU37697!RIV/2004/MSM/262204/N
|
http://linked.open.../vavai/riv/strany
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivita
| |
http://linked.open...avai/riv/aktivity
| - P(ME 544), Z(MSM 262200022)
|
http://linked.open...vai/riv/dodaniDat
| |
http://linked.open...aciTvurceVysledku
| |
http://linked.open.../riv/druhVysledku
| |
http://linked.open...iv/duvernostUdaju
| |
http://linked.open...titaPredkladatele
| |
http://linked.open...dnocenehoVysledku
| |
http://linked.open...ai/riv/idVysledku
| - RIV/00216305:26220/03:PU37697
|
http://linked.open...riv/jazykVysledku
| |
http://linked.open.../riv/klicovaSlova
| - optical microscopy, far field, near field, evanescent waves, SNOM, local characteristics (en)
|
http://linked.open.../riv/klicoveSlovo
| |
http://linked.open...ontrolniKodProRIV
| |
http://linked.open...v/mistoKonaniAkce
| |
http://linked.open...i/riv/mistoVydani
| |
http://linked.open...i/riv/nazevZdroje
| - 3.konference o Matematice a fyzice na vysokých školách technických
|
http://linked.open...in/vavai/riv/obor
| |
http://linked.open...ichTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...cetTvurcuVysledku
| |
http://linked.open...ocetUcastnikuAkce
| |
http://linked.open...nichUcastnikuAkce
| |
http://linked.open...vavai/riv/projekt
| |
http://linked.open...UplatneniVysledku
| |
http://linked.open...iv/tvurceVysledku
| - Tománek, Pavel
- Otevřelová, Dana
- Létal, Petr
- Benešová, Markéta
|
http://linked.open...vavai/riv/typAkce
| |
http://linked.open.../riv/zahajeniAkce
| |
http://linked.open...n/vavai/riv/zamer
| |
number of pages
| |
http://purl.org/ne...btex#hasPublisher
| |
https://schema.org/isbn
| |
http://localhost/t...ganizacniJednotka
| |