Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
rdfs:seeAlso
| |
Description
| - The proposed project represents a continuation of the project no. 202/96/0961, in which the non-charging scanning electron microscopy method has been verified and elaborated. The method makes use of the critical energies of the electron impact at which the total yield of the emitted electron equals unity, so that no charge is dissipated into the specimen. The preceding project was mainly devoted to measurement of the critical energies, and the method is being advanced to an automatic routine of the computerized control system which finds the proper energy and creates an uncharged image. The proposed project includes the elaboration of a theoretical model of the critical energy measurement by means of the time development of the total electron emission. This model should contribute to method optimization, particularly as regards the accuracy and reliability of the results for sensitive and heterogeneous specimens. The main goal is to fit the noncharging microscopy method for some of its key im (en)
- Navrhovaný projekt bezprostředně navazuje na grantový projekt 202/96/0961, v rámci něhož byla ověřena a vypracována metoda nenabíjející rastrovací elektronové mikroskopie využívající kritických energií dopadajících elektronů, při nichž je celkový výtěžekemitovaných elektronů roven jedné a v preparátu se nehromadí žádný náboj. V předchozím projektu, věnovaném především měření kritických energií, byla metoda dotažena do stavu automatické procedury systému řízení mikroskopu počítačem, v níž je nalezena kritická energie a pořízen snímek preparátu nezkreslený projevy nabíjení nevodivého povrchu. Navrhovaný projekt zahrnuje vypracování teoretického modelu procesu měření hodnoty nenabíjející energie elektronů prostřednictvím snímání časového vývoje signálucelkové emise elektronů, který by měl poskytnout podklady pro optimalizaci tohoto postupu, zejména s ohledem na přesnost a spolehlivost výsledku u citlivých a heterogenních preparátů. Nejdůležitějším cílem navrhovaného projektu je rozpracování metody nen
|
Title
| - Further development of the non-charging scanning electron microscopy of non-conductive specimens (en)
- Další rozvoj nenabíjející rastrovací elektronové mikroskopie nevodivých vzorků
|
skos:notation
| |
http://linked.open...avai/cep/aktivita
| |
http://linked.open...kovaStatniPodpora
| |
http://linked.open...ep/celkoveNaklady
| |
http://linked.open...datumDodatniDoRIV
| |
http://linked.open...i/cep/druhSouteze
| |
http://linked.open...ep/duvernostUdaju
| |
http://linked.open.../cep/fazeProjektu
| |
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor
| |
http://linked.open...hodnoceniProjektu
| |
http://linked.open.../cep/klicovaSlova
| |
http://linked.open...ep/partnetrHlavni
| |
http://linked.open...inujicichPrijemcu
| |
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu
| |
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu
| |
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV
| |
http://linked.open...enychVysledkuVRIV
| |
http://linked.open...iciPoslednihoRoku
| |
http://linked.open...atUdajeProjZameru
| |
http://linked.open...usZobrazovaneFaze
| |
http://linked.open...ai/cep/typPojektu
| |
http://linked.open.../cep/vedlejsiObor
| |
http://linked.open...jektu+dodavatelem
| - Byla propracována metoda určování nenabíjející energie elektronů v rastrovací elektronové mikroskopii prostřednictvím snímání časového vývoje signálu emise elektronů a vypracován teoretický model procesu. Metoda umožňuje optimalizaci podmínek pro získání (cs)
|
http://linked.open...tniCyklusProjektu
| |
is http://linked.open...vavai/cep/projekt
of | |