| Attributes | Values |
|---|
| rdf:type
| |
| Description
| - This project is oriented to research and development of elements useful in the wide range of application in nanometrology, high sensitive measuring devices which test the length, shape and surface deviations. These deviations have origin at the material fabrication in the industry of mechanical engineering and advanced micro technology. During the research of the project the work will be oriented to development of special linear guide ways and precise spindles with new supporting drivers, gears and holders at the same time. Then they will be used for construction of self-controlled testers and production lines. The second part of the project will be oriented to research of precise three-axis translation stages and high sensitive detection method for recognition of industrial and fine surfaces. There is assumption that results of the project will be applied in the branch of micromachining, where the production of micro gear boxes or micro drivers is in the range of hundreds of nanometer. (en)
- Tento projekt je orientován na výzkum a realizaci soustavy podpůrných prvků pro širokou aplikaci nanometrických a vysoce citlivých měřicích zařízení délkových změn, tvarových úchylek a povrchových defektů, které se vyskytují v oblasti vyspělého strojírenství a pokročilých mikrotechnologií. V rámci řešení projektu bude výzkum zaměřen zejména na vývoj přesných účelových lineárních vedení a vřeten, včetně jejich náhonových systémů a držáků, které budou následně využity pro automatické diagnostické linky. Dále se bude jednat o výzkum a průmyslový vývoj v oblasti polohovacích stolů a vysoce citlivých detekčních metod určených pro monitorování povrchových vad širokého spektra průmyslových materiálů, a to i v dimenzích tzv. nanosvěta. Předpokládá se, že výsledky projektu proto naleznou uplatnění i v oborech, jako je např. mikrostrojírenství, kde se řeší např. výroba mikropřevodovek či pohonných jednotek s rozměry v řádu stovek nanometrů. (cs)
|
| Title
| - Components for nano-diagnostic of length fluctuations, deviation of shapes and surface faults (en)
- Prvky pro nanometrickou diagnostiku délkových změn, tvarových úchylek a povrchových defektů (cs)
|
| http://linked.open...vai/cislo-smlouvy
| |
| http://linked.open...avai/druh-souteze
| |
| http://linked.open...domain/vavai/faze
| |
| http://linked.open...vavai/hlavni-obor
| |
| http://linked.open...vai/vedlejsi-obor
| |
| http://linked.open...i/hlavni-ucastnik
| |
| http://linked.open...vavai/id-aktivity
| |
| http://linked.open.../vavai/id-souteze
| |
| http://linked.open...n/vavai/kategorie
| |
| http://linked.open...vai/klicova-slova
| - versatile spindle; linear guides; multiaxes stage; probe microscopy; laser measurement of lengths (en)
|
| http://linked.open...avai/konec-reseni
| |
| http://linked.open...nujicich-prijemcu
| |
| http://linked.open...avai/poskytovatel
| |
| http://linked.open...avai/start-reseni
| |
| http://linked.open...ai/statni-podpora
| |
| http://linked.open...vavai/typProjektu
| |
| http://linked.open...ai/uznane-naklady
| |
| http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
| |
| http://linked.open...cet-spoluprijemcu
| |
| http://linked.open...ai/pocet-vysledku
| |
| http://linked.open...ku-zverejnovanych
| |
| is http://linked.open...ain/vavai/projekt
of | |
![[RDF Data]](/fct/images/sw-rdf-blue.png)
![[cxml]](/fct/images/cxml_doc.png)
![[csv]](/fct/images/csv_doc.png)
![[text]](/fct/images/ntriples_doc.png)
![[turtle]](/fct/images/n3turtle_doc.png)
![[ld+json]](/fct/images/jsonld_doc.png)
![[rdf+json]](/fct/images/json_doc.png)
![[rdf+xml]](/fct/images/xml_doc.png)
![[atom+xml]](/fct/images/atom_doc.png)
![[html]](/fct/images/html_doc.png)