About: Selected applications and futher development of the method for imaging of insulators in the scanning electron microscope with a cathode lens     Goto   Sponge   Distinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
Description
  • "Při kritické energii elektronů je množství dopadajících a emitovaných elektronů shodné a je tedy možné pozorovat nevodivé vzorky bez nutnosti pokovení. Uheterogenního preparátu se v zorném poli objevují lokální změny kritické energie a vytváří se povrchový náboj v závislosti na velikosti ""zrn""vzorku. Tento jev bude studován na heterostrukturách , cíleně připravených pomocí elektronové litografie, a dále na různých typech nevodivých struktur, pro něž budou stanovovány podmínky zobrazení a meze použitelnosti metody. Budou prováděny vzorové experimenty pro řadu vybraných typů preparátů z oblastí biologie, medicíny a nauky o materiálu. Především půjde o struktury vláknité nebo práškové povahy, jejichž povrchy je velmi obtížné zvodivovat obvyklými postupy a které jsou pro klasickou rastrovou elektronovou mikroskopii problematické. Budou vypracovávány návody pro nasazení metody v mikroskopické praxi." (cs)
  • "At the critical electron energy the amounts of incident and emited electrons are identical so that nonconductive specimens can be observed without metal coating. With a heterogenous specimen local changes in the critical energy value appear over the viewfield and some surface charge is created in dependence of dimensions of the specimen ""grains"". This phenomenon will be studied on heterostructures, intentionally prepared by using of the electron lithography, and also on various types of real nonconductive heteerostructures, for which optimum experimental conditions will be estabilished as well as limitations to the method application. Demonstration experiments will be performed for series of selected specimens from biology, medicine and material science fields. First of all structures of a fibrous or powder nature will be treated as those which are difficult to be made conductive and observed with classical methods. Guidelines for practical use of the method will be elaborated." (en)
Title
  • Selected applications and futher development of the method for imaging of insulators in the scanning electron microscope with a cathode lens (en)
  • Vybrané aplikace a další rozvoj metody zobrazení nevodivých preparátů v SEM s katodovou čočkou (cs)
http://linked.open...lsi-vedlejsi-obor
http://linked.open...avai/druh-souteze
http://linked.open...domain/vavai/faze
http://linked.open...vavai/hlavni-obor
http://linked.open...vai/vedlejsi-obor
http://linked.open...vavai/id-aktivity
http://linked.open.../vavai/id-souteze
http://linked.open...n/vavai/kategorie
http://linked.open...vai/klicova-slova
  • non conductive specimen; insulator; charging; critical energy; low energy SEM; cathode lens; non charging SEM; heterogenous specimen; homogenous specimen (en)
http://linked.open...nujicich-prijemcu
http://linked.open...avai/poskytovatel
http://linked.open...ai/statni-podpora
http://linked.open...vavai/typProjektu
http://linked.open...ai/uznane-naklady
http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
http://linked.open...cet-spoluprijemcu
http://linked.open...ai/pocet-vysledku
http://linked.open...ku-zverejnovanych
is http://linked.open...ain/vavai/projekt of
Faceted Search & Find service v1.16.118 as of Jun 21 2024


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data] Valid XHTML + RDFa
OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Jun 21 2024, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 39 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2024 OpenLink Software