Attributes | Values |
---|
rdf:type
| |
Description
| - 1. Extending of electro-ultrasonic and resonant ultrasonic spectroscopy on electronic devices (resistors, varistors, capacitors and MOSFETs). 2. Analysis of amplitude and shape of generated ultrasonic oscillations on the samples excited by the ultrasonic actuator by means of optical interferometry and get the descriptions of geometric deformations of the samples. 3. Correlation of electro-ultrasonic spectroscopy and resonant ultrasonic spectroscopy with other method of non-destructive testing like this noise measurement and testing of non-linearity. 4. Experimental analysis of electroultrasonic signal influence on electron transport and its influence on charge carriers in MOSFETs and in homogeneous samples in the magnetic field during Hall-effect measurements. 5. Extension of the theoretical model describing the electro-ultrasonic spectroscopy which is based on one-electron approximation and application of perturbation theory for the interaction of phonons with electrons. (en)
- 1. Rozšíření elektro-ultrazvukové a resonanční ultrazvukové spektroskopie na elektronické součástky (rezistory, varistory, kondenzátory a tranzistory MOSFET). 2. Analýza amplitudy a tvaru mechanických kmitů vybuzených ultrazvukovým budičem na součástkách pomocí optické interference a získání popisu geometrických deformací vzorků. 3. Korelace elektro-ultrazvukové spektroskopie s dalšími metodami nedestruktivního testování, a to šumové spektroskopie a měření nelinearity. 4. Experimentální analýza vlivu elektroultrazvukového signálu na transport elektronů ve strukturách vzorků a vliv na nosiče náboje v transistorech MOSFET a v homogenních vzorcích při jejich současném umístění v magnetickém poli (měření Hallova jevu za působení ultrazvuku). 5. Rozšíření teoretického modelu pro popis elektro-ultrazvukové spektroskopie založeného na jednoelektronové aproximaci a aplikaci poruchové teorie na interakci mezi fonony a elektrony. (cs)
|
Title
| - Nedestruktivní testování elektronických materiálů a součástek pomocí elektro-ultrazvukové a rezonanční ultrazvukové spektroskopie (cs)
- Nondestructive testing of electronic material and devices using electro-ultrasonic and resonant ultrasonic spectroscopy (en)
|
http://linked.open...vai/cislo-smlouvy
| |
http://linked.open...avai/druh-souteze
| |
http://linked.open...domain/vavai/faze
| |
http://linked.open...vavai/hlavni-obor
| |
http://linked.open...vai/vedlejsi-obor
| |
http://linked.open...vavai/id-aktivity
| |
http://linked.open.../vavai/id-souteze
| |
http://linked.open...n/vavai/kategorie
| |
http://linked.open...vai/klicova-slova
| - Electro-ultrasonic spectroscopy, narrowband resonant ultrasonic spectroscopy, 1/f noise, non-destructive testing, quality, reliability (en)
|
http://linked.open...avai/konec-reseni
| |
http://linked.open...nujicich-prijemcu
| |
http://linked.open...avai/poskytovatel
| |
http://linked.open...avai/start-reseni
| |
http://linked.open...ai/statni-podpora
| |
http://linked.open...vavai/typProjektu
| |
http://linked.open...ai/uznane-naklady
| |
http://linked.open...ai/pocet-prijemcu
| |
http://linked.open...cet-spoluprijemcu
| |
http://linked.open...ai/pocet-vysledku
| |
http://linked.open...ku-zverejnovanych
| |
is http://linked.open...ain/vavai/projekt
of | |