About: Investigation of morphology of semiconductor multilayers using x-ray scattering     Goto   Sponge   NotDistinct   Permalink

An Entity of Type : http://linked.opendata.cz/ontology/domain/vavai/Projekt, within Data Space : linked.opendata.cz:8890 associated with source document(s)

AttributesValues
rdf:type
rdfs:seeAlso
Description
  • Heteroepitaxial systems based on semiconductor multilayers are intensively studied due to their extraordinary electrical and optical properties, which depend on the structural quality. In this project, we will investigate morphology of two types of complicated multilayers from materials of type IV and III/V grown by MBE method. Firstly, thick multilayers with large number of non-periodic thin SiGe/Si layers grown in order to design cascade laser structures based on silicon technology. Secondly, multilayers with self-assembled structures of quantum dots and wires. We will be interested in the morphological properties as a state of individual layers (thickness, refractive index), interfaces (correlation function) and quantum objects (spatial arrangement). Investigated samples will be studied by x-ray reflectivity and diffraction methods using laboratory and synchrotron sources. Evaluation of measured data will be based on appropriate growth models. (en)
  • Heteroepitaxní systémy založené na bázi polovodičových multivrstev jsou dlouhodobě studovány pro své vyjímečné elektrické a optické vlastnosti, které závisí na jejich strukturní kvalitě. V rámci tohoto projektu budeme studovat morfologii dvou typů složitých multivrstev z materiálů typu IV a III/V pěstovaných metodou MBE. Prvním typem budou tlusté multivrstvy s velkým počtem neperiodických tenkých vrstev SiGe/Si pěstovaných za účelem návrhu a konstrukce kaskádového laseru na bázi křemíkové technologie. Druhým typem budou multivrstvy se samouspořádanými strukturami kvantových teček a drátů. Z morfologických vlastností nás budou zajímat zejména stavy jednotlivých vrstev (tloušťky, indexy lomu), rozhraní (korelační funkce) a kvantových objektů (prostorové uspořádání). Pro analýzu zkoumaných vzorků použijeme metody rtg reflexe a difrakce s laboratorními a sychrotronovými zdroji. Naměřená data budou vyhodnocena na základě zformovaných růstových modelů.
Title
  • Investigation of morphology of semiconductor multilayers using x-ray scattering (en)
  • Studium morfologie polovodičových multivrstev pomocí rtg rozptylu
skos:notation
  • GP202/05/P286
http://linked.open...avai/cep/aktivita
http://linked.open...kovaStatniPodpora
http://linked.open...ep/celkoveNaklady
http://linked.open...datumDodatniDoRIV
http://linked.open...i/cep/druhSouteze
http://linked.open...ep/duvernostUdaju
http://linked.open.../cep/fazeProjektu
http://linked.open...ai/cep/hlavniObor
http://linked.open...hodnoceniProjektu
http://linked.open...vai/cep/kategorie
http://linked.open.../cep/klicovaSlova
  • x-ray scattering; multilayers; SiGe; quantum dots (en)
http://linked.open...ep/partnetrHlavni
http://linked.open...inujicichPrijemcu
http://linked.open...cep/pocetPrijemcu
http://linked.open...ocetSpoluPrijemcu
http://linked.open.../pocetVysledkuRIV
http://linked.open...enychVysledkuVRIV
http://linked.open...lneniVMinulemRoce
http://linked.open.../prideleniPodpory
http://linked.open...iciPoslednihoRoku
http://linked.open...atUdajeProjZameru
http://linked.open.../vavai/cep/soutez
http://linked.open...usZobrazovaneFaze
http://linked.open...ai/cep/typPojektu
http://linked.open...ep/ukonceniReseni
http://linked.open...ep/zahajeniReseni
http://linked.open...jektu+dodavatelem
  • V rámci řešení projektu byly studovány strukturní vlastnosti SiGe krystalických multivrstev a kaskádových struktur s vysokým obsahem Ge pěstovaných na SiGe relaxovaných pseudosubstrátech pomocí molekulární svazkové epitaxe. Použitím metod rtg reflexe a d (cs)
  • In the frame of the solved project we have studied structural properties of SiGe crystalline multilayers and cascade structures with high Ge content grown on SiGe relaxed pseudosubstrates by molecular beam epitaxy technique. The structural parameters of (en)
http://linked.open...tniCyklusProjektu
http://linked.open.../cep/klicoveSlovo
  • SiGe
  • multilayers
  • x-ray scattering
is http://linked.open...vavai/cep/projekt of
Faceted Search & Find service v1.16.121 as of Mar 31 2025


Alternative Linked Data Documents: ODE     Content Formats:   [cxml] [csv]     RDF   [text] [turtle] [ld+json] [rdf+json] [rdf+xml]     ODATA   [atom+xml] [odata+json]     Microdata   [microdata+json] [html]    About   
This material is Open Knowledge   W3C Semantic Web Technology [RDF Data]
OpenLink Virtuoso version 07.20.3240 as of Mar 31 2025, on Linux (x86_64-pc-linux-gnu), Single-Server Edition (126 GB total memory, 39 GB memory in use)
Data on this page belongs to its respective rights holders.
Virtuoso Faceted Browser Copyright © 2009-2025 OpenLink Software